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    MPCVD低溫沉積金剛石薄膜及其特征

    呂反修 楊保雄 蔣高松

    呂反修, 楊保雄, 蔣高松. MPCVD低溫沉積金剛石薄膜及其特征[J]. 工程科學學報, 1992, 14(2): 168-175. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1992.02.009
    引用本文: 呂反修, 楊保雄, 蔣高松. MPCVD低溫沉積金剛石薄膜及其特征[J]. 工程科學學報, 1992, 14(2): 168-175. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1992.02.009
    Lu Fanxiu, Yang Baoxiong, Jiang Gaosong. Low Temperature Deposition and Characterization of Diamond Thin Films by MPCVD[J]. Chinese Journal of Engineering, 1992, 14(2): 168-175. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1992.02.009
    Citation: Lu Fanxiu, Yang Baoxiong, Jiang Gaosong. Low Temperature Deposition and Characterization of Diamond Thin Films by MPCVD[J]. Chinese Journal of Engineering, 1992, 14(2): 168-175. doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1992.02.009

    MPCVD低溫沉積金剛石薄膜及其特征

    doi: 10.13374/j.issn1001-053x.1992.02.009
    基金項目: 

    國家高技術發展項目資助

    Low Temperature Deposition and Characterization of Diamond Thin Films by MPCVD

    • 摘要: 應用微波等離子體輔助的化學氣相沉積(MPCVD)工藝成功地實現了金剛石薄膜在700-790℃范圍內的低溫沉積.發現氧在CH4-H2系統中的引入不僅可以減小或消除Raman譜上位于1550cm-1的非金剛石特征峰,而且還使位于1332cm-1的金剛石特征峰半高寬顯著減小。正是由于原子態氧在較低溫度下具有遠比原子態氫強烈得多的對石墨和類金剛石碳的刻蝕作用,才用金剛石的低溫生長得以順利進行。本文詳細報導了金剛石薄膜低溫沉積工藝及其所得薄膜的表征結果,并就Bachmann等最近提出C-H-O金剛石相圖針對低溫沉積數據進行了討論。

       

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    出版歷程
    • 收稿日期:  1991-10-12
    • 網絡出版日期:  2021-10-16

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